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TIMA-X 综合矿物分析仪
TIMA-X 综合矿物分析仪
TIMA-X 是一款自动化矿物分析系统,可用于如岩石、矿石、精矿、尾矿、浸出渣或冶炼产品等的快速定量分析。
TIMA-X 结合 BSE 和 EDS 分析来鉴别矿物,获得矿物图像。通过分析图像可确定矿物质浓度、元素分布及矿物质特性,如晶粒尺寸、结合形式、解离和包裹程度。TIMA-X 也可用于鉴别明亮相中是否含有铂族金属、金、银、稀土和其它矿物质。
TIMA-X 最多可安装四个 EDAX 硅漂移能谱探头,配合新型软件,显著提高了分析性能和可靠性。新型能谱探头提高了轻元素探测灵敏度,并在高计数率下具有稳定的能量分辨率。能谱探头可由 TIMA 操作系统和 EDAX 的能谱定量分析软件控制,用户既可体验 TIMA-X 超高的工作效率,也可进行定量分析。TIMA-X 软件有很多独特的功能,包括新一代的矿物鉴定工具,以及采用其专利的像素分析算法实现较低元素含量的检测。
TIMA-X 可以装配 AutoLoader™自动进样系统,可实现 24 小时全天候无人值守检测样品,进样数量为 2 到 100 个环氧树脂块。 AutoLoader™ 自动进样系统消除了手动更换样品及手动样品仓抽真空的操作,将矿物检测从批量处理变成了连续的过程,显著提高生产效率。
硬件突出特点
TIMA-X 基于
TESCAN MIRA
肖特基场发射扫描电镜或
VEGA
钨灯丝扫描电镜平台
最多能集成 4 个 EDS 探测器,使系统的高通量性能最大化
采用最新一代 Peltier 冷却 SDD 探测器
使用新型 30 mm
2
SDD CMOS
真空封装芯片
Si
3
N
4
陶瓷窗口,
坚硬、无孔、透射率高
配备功能齐全的标准 EDS 定量分析
独特功能
X 射线采集和电子束扫描系统完全集成于一体
AutoLoader™
可实现 7 天 * 24 小时无间断、无值守自动化操作,适用于大量样品分析
低计数率下,更低的检测限
可直接进行定量
能谱
分析
简化矿物分类流程的工作流和工具
交互式测试验证和研究工具
软件突出特点
全面的矿物重新分类、调查、图像处理、报告和离线数据处理功能
可配置以应用为导向的数据管理系统
可建立工作簿目录以保存图像、图表和表格
自动备份报告元数据
精确的
SEM
视野拼接
内置详细的交互式用户帮助手册
主要支持功能
针对需求进行持续研发
定期免费更新软件
所有零部件均由
TESCAN 提供和维护,无需第三方支持
在线交互式工具
内置自定义分析工具,有助于矿物分类和组分分析
内置自定义
EDS
系统,可直接进行成分分析
扩展工具包,可从测量的总谱、成分、公式和光谱标准中轻松添加新相
包含 4700 种矿物的数据库,提供建议的矿物种类、ZAF 校正公式和组成的合成谱
识别新材料时,可实现快速重新分类(再分析)
在线测试功能和模式
利用多个探测器接收低计数信号,提升元素检测极限。
从标准结果或直接从测试结果进行内置 EDS 定量组分分析
Spot 模式测量,将高分辨率 BSE 图像与较低分辨率的 X 射线测量模式集成在一起,用户可以根据矿物鉴定的精度优化测试时间
TIMA-X
产品彩页
TIMA-X Brochure
TIMA-X is an automated mineralogy system for fast quantitative analysis of samples such as rocks, ores, concentrates, tailings, leach residues or smelter products. TIMA-X combines BSE and EDX analysis to identify minerals and create mineral images that are analysed to determine mineral concentrations, element distributions, and mineral texture properties such as grain-size, association, liberation and locking parameters. TIMA-X can also search for bright phases containing platinum group, gold, silver, rare earth and other minerals.
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TIMA应用案例
Automated mineralogy and petrology - applications of TESCAN Integrated Mineral Analyzer (TIMA)
The collection of representative modal mineralogy data as well as textural and chemical information on statistically significant samples is becoming essential in many areas of Earth and material sciences. Automated Scanning Electron Microscopy (ASEM) systems provide an ideal solution for such tasks. This paper presents the methods and techniques used in the recently developed TESCAN Integrated Mineral Analyzer (TIMA-X) with Version 1.5 TIMA software. The benefits from the use of a fully integrated quantitative energy-dispersive X-ray spectrometry (EDS) and an advanced statistical approach to ASEM systems are demonstrated. Typically, the system can handle more than 500,000 X-ray events per second. Using a common spectral total of 1000 events this represents the acquisition of 500 spectra per second. A number of measurement modes is available to make the most effective use of these spectra depending on the application.
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适用领域和机型
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