Tescan产品 SEM TESCAN VEGA

TESCAN VEGA

TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。

突出特点

完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台，在 Essence™ 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。
TESCAN 采用独特的无机械光阑设计，采用实时电子束追踪（In Flight Beam Tracing™）的专利技术，可帮助用户快速获得电镜的最佳成像及分析条件。
独特的大视野光路（Wide Field Optics™）设计，最低至2倍的放大倍数，无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。
SingleVac™ 模式作为标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。