SEM

扫描电子显微镜是一种众所周知的无损分析技术,它使用电子束分析样品表面,分析尺度可至纳米级。扫描电子显微镜可获得高分辨的高倍图像,广泛应用于各个科学和工业领域。
TESCAN 提供各种样品室大小和配置的高性能钨灯丝扫描电子显微镜,以满足特定的分析需求。

TESCAN 还提供场发射扫描电子显微镜 ( FE-SEM ) ,配备高亮度肖特基场发射灯丝,可以获得高分辨率和低噪声成像效果。其中,TESCAN MIRA 系列是高分辨率的场发射扫描电镜。此外,TESCAN 最新推出了 TESCAN CLARA 和 TESCAN MAGNA 系列产品。TESCAN CLARA 采用新型BrightBeam TM 电子镜筒技术,实现了无磁场超高分辨成像,可以最大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析。TESCAN MAGNA 配置Triglav TM 型超高分辨率电子镜筒,同时使用了全新的电子光学系统和探测器系统,能够提供卓越的表面灵敏度和衬度图像,实现对电子束高敏材料或不导电材料纳米特征的观察。

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