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帕尔贴制冷/加热样品台
帕尔贴制冷/加热样品台
Peltier 样品台具有温度可调节的功能,可以降低样品的温度。
样品台的温度控制是通过在由半导体分开的两块介质板之间产生温度梯度来实现的。在连接到半导体的两个电极之间外加一个电压,即可产生一个温度梯度差,这种现象被称为“Peltier 帕尔贴效应”。通过改变电流的方向可以逆转温度梯度差异。该方法适用于小尺寸样品的热量提取/转移(即冷却/加热)。通过控制水分的蒸发,Peltier 样品台可以保持样品的精细结构。例如,当样品室压力设置为 100 pa 时,温度低于零下 20℃ 即可防止水分蒸发。在低真空条件下,可以将 Peltier 样品台与水蒸汽附件结合,实现潮湿样品的直接成像。Peltier 样品台同样也适用于高真空操作。能够以每分钟 30℃ 的速度将样品冷却至零下 50℃。
Peltier 制冷/加热样品台能够安装在所有的 TESCAN 扫描电子显微镜或双束电镜系统上(VEGA SB/SB Easy Probe 除外)。
主要规格参数:
温度范围: -50°C 至 +70°C
温度准确度: ± 0.5°C
温度稳定性: ± 0.2°C
最快冷却速度: 30 °C/分钟
制冷/加热过程控制:通过显微镜软件自动调节
Peltier 模块冷却:闭环冷却系统(内部填充冷却剂)
样品托直径: 12.5 mm
Peltier 模块的输入功率: 50 W
帕尔贴制冷/加热样品台
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